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> 한국전기전자재료학회 > 전기전자재료학회논문지(J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng.) > 31권 7호

기계학습 알고리즘을 이용한 반도체 테스트공정의 불량 예측

Defect Prediction Using Machine Learning Algorithm in Semiconductor Test Process

장수열 ( Suyeol Jang ) , 조만식 ( Mansik Jo ) , 조슬기 ( Seulki Cho ) , 문병무 ( Byungmoo Moon )

- 발행기관 : 한국전기전자재료학회

- 발행년도 : 2018

- 간행물 : 전기전자재료학회논문지(J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng.), 31권 7호

- 페이지 : pp.450-454 ( 총 5 페이지 )


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초록(외국어)
Because of the rapidly changing environment and high uncertainties, the semiconductor industry is in need of appropriate forecasting technology. In particular, both the cost and time in the test process are increasing because the process becomes complicated and there are more factors to consider. In this paper, we propose a prediction model that predicts a final “good” or “bad” on the basis of preconditioning test data generated in the semiconductor test process. The proposed prediction model solves the classification and regression problems that are often dealt with in the semiconductor process and constructs a reliable prediction model. We also implemented a prediction model through various machine learning algorithms. We compared the performance of the prediction models constructed through each algorithm. Actual data of the semiconductor test process was used for accurate prediction model construction and effective test verification.

논문정보
  • - 주제 : 공학분야 > 전기공학
  • - 발행기관 : 한국전기전자재료학회
  • - 간행물 : 전기전자재료학회논문지(J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng.), 31권 7호
  • - 발행년도 : 2018
  • - 페이지 : pp.450-454 ( 총 5 페이지 )
  • - UCI(KEPA) :
저널정보
  • - 주제 : 공학분야 > 전기공학
  • - 성격 : 학술지
  • - 간기 : 격월
  • - 국내 등재 : KCI 등재
  • - 해외 등재 : -
  • - ISSN : 1226-7945
  • - 수록범위 : 1988–2019
  • - 수록 논문수 : 4387